/ 2021-03-03 /

Imina Technologies與Dialog Semiconductor和Point Electronic一起，展示了其納米探測解決方案的新用例，該解決方案使用電子束感應電阻變化（EBIRCh）技術進行半導體缺陷定位。

結果顯示在詳細的應用筆記中，描述了使用該技術精確定位晶體管柵極氧化物中的缺陷的方法。我們的納米探測解決方案的高穩定性和定位分辨率，再加上Point Electronic的高度靈敏的電氣故障分析系統，使該實驗成功了。

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