Iminatechnologies Nanoprobing SEM
Nanoprobing_SEM
直觀、原位、低電流電性能測量。
在掃描式電鏡的真空腔室中,在纳米尺度對樣品進行觀察和表徵。
詳細介紹

Imina Nanoprobing SEM

Imina Technologies公司的奈米探針臺一套獨特的解決方案,特別適合在奈米尺度對電子器件和先進材料進行微奈米操縱和表徵。這套方案內含四個業界著名的易用  多功能壓電陶瓷驅動微型機器人miBot。 
miBot微機器人可以在毫米級樣品上獨立定位,定位精度高達奈米級,該方案是為低電流電性能測量量身定做的,漏電流低達100fA/V,對奈米結構進行電性表徵時要經由具有超高信噪比的屏蔽電纜外接第三方半信號發生/分析器。

 

優點
更快的實驗,樣品的觀察,製備和表徵一次性完成,多功能、高精度的儀器。
在奈米尺度進行電性測量和機械操縱,探針定位方便,即時調整相對任何幾何形狀的樣品的方位。
高機械穩定度,探針移動時無振動,並保持穩定電氣接觸。
拓展您的掃描電鏡的功能,即使對小的掃描電鏡腔室,也無需進行不可恢復性的改造。